Puerto de barrido direccionable SCANSTA111MT/NOPB, 7 bits, 1 puertos, alimentación 3 → 3,6 V, 48 pines TSSOP
Documentos Técnicos
Especificaciones
Brand
Texas InstrumentsNúmero de Entradas de Elemento
7
Número de Elementos por Chip
1
Tipo de montaje
Surface Mount
Tipo de Encapsulado
TSSOP-16
Conteo de Pines
48
Dimensiones
12.6 x 6.2 x 1.05mm
Largo
12.6mm
Profundidad
6.2mm
Altura
1.05mm
Tensión de Alimentación Máxima de Funcionamiento
3.6 V
Temperatura Máxima de Funcionamiento
+85 °C.
Tensión de Alimentación de Funcionamiento Mínima
3 V
Temperatura Mínima de Operación
–40 °C
Rango de Tensión de Alimentación de Funcionamiento
3 → 3.6 V
Rango de Temperatura de Operación
-40 → +85 °C
Datos del producto
Puerto JTAG direccionable, Texas Instruments
El SCANSTA111 de Texas Instruments amplía el estándar IEEE Bus de prueba 1149.1 en un entorno de bus de prueba multidrop con las ventajas de un rendimiento de prueba y la capacidad de eliminar una placa del sistema conservando al mismo tiempo el acceso de prueba a los módulos del sistema restantes. Cada dispositivo admite hasta tres anillos de exploración IEEE 1149.1 locales que se pueden combinar en serie o acceder de forma individual. El contador de 32 bits TCK permite realizar operaciones de autodiagnóstico integradas en un puerto mientras que al mismo tiempo se prueban otras cadenas de exploración.
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P.O.A.
Empaque de Producción (Tubo)
1
P.O.A.
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Conteo de Pines
48
Dimensiones
12.6 x 6.2 x 1.05mm
Largo
12.6mm
Profundidad
6.2mm
Altura
1.05mm
Tensión de Alimentación Máxima de Funcionamiento
3.6 V
Temperatura Máxima de Funcionamiento
+85 °C.
Tensión de Alimentación de Funcionamiento Mínima
3 V
Temperatura Mínima de Operación
–40 °C
Rango de Tensión de Alimentación de Funcionamiento
3 → 3.6 V
Rango de Temperatura de Operación
-40 → +85 °C
Datos del producto
Puerto JTAG direccionable, Texas Instruments
El SCANSTA111 de Texas Instruments amplía el estándar IEEE Bus de prueba 1149.1 en un entorno de bus de prueba multidrop con las ventajas de un rendimiento de prueba y la capacidad de eliminar una placa del sistema conservando al mismo tiempo el acceso de prueba a los módulos del sistema restantes. Cada dispositivo admite hasta tres anillos de exploración IEEE 1149.1 locales que se pueden combinar en serie o acceder de forma individual. El contador de 32 bits TCK permite realizar operaciones de autodiagnóstico integradas en un puerto mientras que al mismo tiempo se prueban otras cadenas de exploración.
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