Circuito integrado biestable, CI biestable, CD4013BE, PDIP 14 pines Dual

Código de producto RS: 923-6703Marca: Texas InstrumentsNúmero de parte de fabricante: CD4013BE
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Documentos Técnicos

Especificaciones

Brand

Texas Instruments

Familia Lógica

4000

Función Lógica

Tipo D

Tipo de Entrada

Single Ended

Tipo de Señal de Salida

Differential

Tipo de Disparo

Borde positivo

Polarity

Inverting, Non-Inverting

Tipo de Montaje

Through Hole

Tipo de Encapsulado

DIP

Conteo de Pines

14

Set/Reset

Yes

Número de Elementos por Chip

2

Tipo de Retardo de Propagación Máxima @ CL Máximo

300 ns @ 5 V

Tensión de Alimentación Máxima de Funcionamiento

18 V

Dimensiones

19.3 x 6.35 x 4.57mm

Temperatura Mínima de Funcionamiento

-55 °C

Temperatura Máxima de Operación

125 °C

Largo

19.3mm

Altura

4.57mm

Ancho

6.35mm

Tensión de Alimentación de Funcionamiento Mínima

3 V

Propagation Delay Test Condition

50pF

Datos del producto

Familia lógica CMOS de la serie 4000, Texas Instruments

Gama de registros y biestables de la familia lógica CMOS de la serie 4000 de Texas Instruments

4000 CMOS Logic Family, Texas Instruments

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P.O.A.

Each (In a Tube of 25) (Sin IVA)

Circuito integrado biestable, CI biestable, CD4013BE, PDIP 14 pines Dual

25

Disponible en múltiplos de 25
25P.O.A.
50P.O.A.
75P.O.A.
100P.O.A.
125P.O.A.
150P.O.A.
175P.O.A.
200P.O.A.
225P.O.A.
250P.O.A.
275P.O.A.
300P.O.A.
325P.O.A.
350P.O.A.
375P.O.A.

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Brand

Texas Instruments

Familia Lógica

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Tipo D

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Differential

Tipo de Disparo

Borde positivo

Polarity

Inverting, Non-Inverting

Tipo de Montaje

Through Hole

Tipo de Encapsulado

DIP

Conteo de Pines

14

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Yes

Número de Elementos por Chip

2

Tipo de Retardo de Propagación Máxima @ CL Máximo

300 ns @ 5 V

Tensión de Alimentación Máxima de Funcionamiento

18 V

Dimensiones

19.3 x 6.35 x 4.57mm

Temperatura Mínima de Funcionamiento

-55 °C

Temperatura Máxima de Operación

125 °C

Largo

19.3mm

Altura

4.57mm

Ancho

6.35mm

Tensión de Alimentación de Funcionamiento Mínima

3 V

Propagation Delay Test Condition

50pF

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